ネットワーク型共同研究拠点を支える 人・環境と物質をつなぐイノベーション創出ダイナミック・アライアンス 研究者データベース

透過電子顕微鏡（TEM）は、物質の形状を単に拡大して観察できるだけでなく、結晶格子欠陥や歪といった組織学的情報、結晶構造や原子の価数等の結晶学的情報や、試料内外の電磁場等の電磁気学的情報についての解析を可能にする装置です。近年、電子顕微鏡の空間分解能および評価技術は飛躍的に向上しました。その内、我々は、TEMを用いた電磁場解析技術の高度化を図ってきました。

Transmission electron microscopy has been developed as a tool which can analyze crystallographic, metallographic and electromagnetic information complementarily, with high spatial resolution. During the past decade, resolution and evaluation technique of TEM have been improved dramatically. Our research group has focused on the development of electromagnetic field analysis with TEM.

これまでに取り組んできた、極低温外部磁場下で超伝導体周辺の磁場観察や、動的磁場下での軟磁性材料の磁区構造変化などのその場観察法を発展させ、材料の機能と微細組織の関連の解明に取り組みます。また、電磁場解析手法である電子線ホログラフィーにおいては、従来無視してきた回折現象を解析に取り込むなどして、技術の更なる高度化を図ります。

We have developed in-situ observation techniques such as “analysis of magnetic flux distribution around superconductor under external magnetic field at low temperature”, “in-situ Lorentz microscopy with alternating magnetic field”, etc. Utilizing these techniques, we hope to reveal the relation between the function and the nanostructure of advanced / practical materials. And also we will continue to develop the methods of electron holography.