IMRAM
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
東北大学
多元物質科学研究所

LAST UPDATE 2021/05/04
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研究者氏名
Researcher Name坂倉輝俊 Terutoshi SAKAKURA
助教 Assistant Professor -
所属
Professional Affiliation東北大学多元物質科学研究所
計測研究部門 構造材料物性研究分野
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
Division of Measurements, Structural Physics and Crystal Physics -
研究キーワード
Research Keywords単結晶X線結晶構造解析
電子密度分布
多重散乱
波動関数
Single-crystal X-ray diffraction
Electron density distribution
Multiple diffraction
Wave function
- 研究テーマ
Research Subject -
単結晶 X 線回折法における技術開発
Technical study of single-crystal X-ray diffraction
研究の背景 Background
物質内の電子密度をとても明瞭に捉える新しい技術が今日必要とされています。原理上、そのような分析手法として最も有力なのは単結晶X線回折法です。多重散乱等のあらゆるノイズを除去する事ができれば、単結晶X線回折法を用いて結晶内のたった一個の価電子の空間分布までも捉える事が可能となります。
Novel techniques to capture electron densities in materials quite clearly are required nowadays. In principle, the most promising probe of this kind is single-crystal X-ray diffraction (XRD). If any kinds of contaminations such as multiplediffractions (MDs) are eliminated, single-crystal XRD can capture spatial distribution of even only one valence electron in crystals.
研究の目標 Outcome
波動関数ベースのデータ解析ソフトウェアや多重散乱を抑える測定法の開発をする事で、古くからのX線回折技術は結晶内の電子密度を測定する優れたツールへと変わり得ます。この分野におけるこのような技術的困難や煩雑さを克服していくことを研究の目標としています。
Through the development of wave-function-based refinement software and data collection technique reducing contaminations due to multiple diffractions, conventional XRD technique can become a sophisticated tool to investigate electron density distribution in crystals. Our objective is to overcome such technical difficulties and complexities in this field.
研究図Research Figure

文献 / Publications
Acta Cryst. B,67,193(2011). ISOTOPES 誌, 60(3),131 (2011). Acta Cryst. E,66,i68(2010). Acta Cryst E,66,i80(2010).
研究者HP
- terutoshi.sakakura.a7
tohoku.ac.jp
- http://db.tagen.tohoku.ac.jp/php/forweb/outline.php?lang=ja&no=4015