IMRAM

Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

東北大学
多元物質科学研究所

LAST UPDATE 2017/02/27

  • 研究者氏名
    Researcher Name

    進藤大輔 Daisuke SHINDO
    教授 Professor
  • 所属
    Professional Affiliation

    東北大学多元物質科学研究所
    Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

    先端計測開発センター
    Center for Advanced Microscopy and Spectroscopy (CAMS)
  • 研究キーワード
    Research Keywords

    電子線ホログラフィー
    電磁場解析
    二次電子
    磁気記録媒体
    Electron holography
    Electromagnetic field analysis
    Secondary electrons
    Magnetic recording medium
研究テーマ
Research Subject
電子線ホログラフィーによる各種物質の電磁場解析
Analysis of electromagnetic field in various materials by electron holography

研究の背景 Background

物質の電磁気特性を理解するためには、その物質内外の電磁場を解析することが重要です。この課題に対して、私達は、ナノスケールで電磁場を可視化できる最先端の科学技術である電子線ホログラフィーの高分解能化と高精度化を図って参りました。

In order to understand the electromagnetic properties of materials, it is basically important to analyze the electromagnetic fields both inside and outside the materials. For this subject, we have improved the resolution and precision of electron holography which is a cutting edge technology and can visualize the electromagnetic fields on the nanometer scale.

研究の目標 Outcome

本研究では、電子線ホログラフィーを用いて、電圧や磁場を印加しながら、各種物質の電磁場の変化を解析し、その電気的・磁気的特性との対応を明らかにします。さらに、物質表面での電子の集団運動を可視化し、電子と物質との相互作用も解明する計画です。

In this study, by applying the voltage and magnetic field, the change of electromagnetic fields of various materials is analyzed by electron holography, and their electric and magnetic properties are clarified. Furthermore, by visualizing the collective motion of electrons on material surfaces, we are planning to analyze the interactions between materials and electrons.

研究図Research Figure

Fig.1. Reconstructed amplitude images showing the orbits of secondary electrons around positively charged microfibrils. Voltages of an inserted W probe are (a) zero and (b) 5 V.

文献 / Publications

Microscopy, 62(2), 487 (2013). Microsc. Microanal. 20(4). 1015 (2014). Nat. Commun. 5, 4133 (2014). Nat. Nanotechnol. 9, 337 (2014).

研究者HP