IMRAM

Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

東北大学
多元物質科学研究所

LAST UPDATE 2017/02/27

  • 研究者氏名
    Researcher Name

    赤瀬善太郎 Zentaro AKASE
    講師 Lecturer
  • 所属
    Professional Affiliation

    東北大学多元物質科学研究所
    Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University

    先端計測開発センター
    Center for Advanced Microscopy and Spectroscopy (CAMS)
  • 研究キーワード
    Research Keywords

    電子線ホログラフィー
    動的ローレンツ顕微鏡法
    定量的電子回折法
    磁性材料/超電導材料
    electron holography
    in-situ Lorentz microscopy
    quantitative electron diffraction
    magnetic materials / superconducting materials
研究テーマ
Research Subject
先端透過電子顕微鏡法による実用材料の電磁場評価と計測技術の開発
Development of advanced transmission electron microscopy for electromagnetic analyses of practical materials

研究の背景 Background

透過電子顕微鏡(TEM)は、物質の形状を単に拡大して観察できるだけでなく、結晶格子欠陥や歪といった組織学的情報、結晶構造や原子の価数等の結晶学的情報や、試料内外の電磁場等の電磁気学的情報についての解析を可能にする装置です。近年、電子顕微鏡の空間分解能および評価技術は飛躍的に向上しました。その内、我々は、TEMを用いた電磁場解析技術の高度化を図ってきました。

Transmission electron microscopy has been developed as a tool which can analyze crystallographic, metallographic and electromagnetic information complementarily, with high spatial resolution. During the past decade, resolution and evaluation technique of TEM have been improved dramatically. Our research group has focused on the development of electromagnetic field analysis with TEM.

研究の目標 Outcome

これまでに取り組んできた、極低温外部磁場下で超伝導体周辺の磁場観察や、動的磁場下での軟磁性材料の磁区構造変化などのその場観察法を発展させ、材料の機能と微細組織の関連の解明に取り組みます。また、電磁場解析手法である電子線ホログラフィーにおいては、従来無視してきた回折現象を解析に取り込むなどして、技術の更なる高度化を図ります。

We have developed in-situ observation techniques such as “analysis of magnetic flux distribution around superconductor under external magnetic field at low temperature”, “in-situ Lorentz microscopy with alternating magnetic field”, etc. Utilizing these techniques, we hope to reveal the relation between the function and the nanostructure of advanced / practical materials. And also we will continue to develop the methods of electron holography.

研究図Research Figure

Fig.1. Scanning Ion microscope (SIM) and reconstructed phase images of a square-column-shaped Y-Ba-Cu-O superconductor. (a) Magnetic flux distribution around a high-Tc Y-Ba-Cu-O superconductor under external magnetic field 8.0 kA/m at 12 K. The reconstructed phase image overlaps the SIM image of the specimen for comparison between the distributions of the magnetic flux and the 211-phase particles. (b-ii) Magnetic flux distribution without external magnetic field at 13 K. (b-i) and (b-iii) are SIM images showing left and right side views of the specimen.

文献 / Publications

Mater. Trans. 48 (2007) 2626-2630. J. Electron Microsc. 59 (2010) 207-213. J. Appl. Phys. 111 (2012) 033912. Appl. Phys. Lett., 104 (2014) 131601. J. Magn. Magn. Mater., 375 (2015) 10-14.

研究者HP