ネットワーク型共同研究拠点を支える 人・環境と物質をつなぐイノベーション創出ダイナミック・アライアンス 研究者データベース

電子顕微鏡は原子分解能で物質・材料を可視化する究極の解析ツールとして知られていますが、電子線と試料の相互作用の結果生じる電子線の非弾性散乱や試料からの発光を通じて励起状態を分光学的に解析することもできます。この電子線分光の最大の魅力は電子顕微鏡の高い空間分解能を活用できる点にありますが、近年次々と発見されている電子線励起特有の現象をさらに活用すれば、動的観察や電子線損傷を抑えたソフトマテリアルの観察の実現に繋がると期待されています。

Electron microscopes are known as the ultimate analytical tool for visualizing materials at an atomic resolution. Furthermore, the excited states can be spectroscopically analyzed by inelastic electron scattering resulting from interaction between the electron beam and samples or light emission from the samples. Recently variety phenomena unique to electron beam excitation have been discovered due to rapid advancement of electron microscopy and spectroscopy, which are expected to generate new microspectroscopies as well as ultrafast dynamic observation and damage-less observation.

金属表面に励起される表面プラズモンを利用した物質の光吸収や発光の増強、新機能の付加を試みています。電子線分光により増強された光―物質相互作用の詳細をナノレベルで可視化することができるようになってきました。さらに、新規な電子線特有の物質との相互作用が見つかってきており、これを積極的に利用した新たな手法や電子顕微鏡周辺デバイスの開発を通して、励起と緩和過程のダイナミクスにまで踏み込んだ解析の実現を目指しています。

I am trying to enhance or manipulate light absorption and emission of materials using surface plasmons excited on the metal surface. It has become possible to visualize the details of light-matter interaction by electron beam spectroscopy at a nano scale. Furthermore, new electron beam-material interactions have been discovered. Through the development of electron microscope-related devices, I am aiming to establish new analysis method revealing dynamics of excitation and relaxation processes.